是武汉普赛斯自主研制、精益打造的一款半导体电学特性检测体系，具有高精度、宽丈量规模、快速灵敏、兼容性强等优势。产品能一起支撑DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测验，旨在协助加速前沿资料研讨、半导体芯片器材规划以及先进工艺的开发，具有桌越的丈量功率与牢靠性。

  依据模块化的体系结构规划，SPA-6100半导体参数剖析仪可以在必定程度上协助用户依据测验需求，灵敏选配丈量单元进行晋级。产品支撑Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的丈量，一起检测10kHz至1MHz规模内的多频AC电容丈量。SPA-6100半导体参数剖析仪搭载普赛斯自主开发的专用半导体参数测验软件,支撑交互式手动操作或结合探针台的主动操作,可以从丈量设置、履行、成果剖析到数据管理的整一个完好的进程，完成高效和可重复的器材表征;也可与高低温箱、温控模块等调配运用，满意高低温测验需求。

  普赛斯外表专业研讨和开发半导体资料与器材测验的专业智能配备，产品掩盖半导体范畴从晶圆到器材出产全产业链。推出依据高精度数字源表(SMU）的第三代半导体功率器材静态参数测验计划，为SiC和GaN器材供给较为牢靠的测验手法，完成功率半导体器材静态参数的高精度、高功率丈量和剖析。假如您对普赛斯功率半导体器材静态参数测验计划和国产化高精度源表感兴趣，欢迎随时保持联系咱们！

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